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静电电压测试仪是如何进行静电测试的

发布时间:2017-11-20

一般情况下,静电测试分为两种方式,一种为接触静电测试,另一种是非接触静电测试,通常电子元器件的接触防静电电压值要低于非接触防静电电压值。工业防静电标准:接触防静电电压6 kV,非接触防静电电压8 kV。

静电测试前的准备工作:

·连接好准备测试的设备,确保测试前的设备是正常运行的。

·连接好静电放电测试仪,确保测试仪的地线与设备的地线相互连接,形成放电回路。

1. 接触静电测试

测试项目包括设备机箱外壳,电源接口,控制接口,以及通讯接口等。

测试电压标准,测试静电电压从2 kV开始增加,每次增加2 kV,直到20 kV为止,即测试静电电压分别为2 kV,4 kV,6 kV,8 kV,10 kV,12 kV,14 kV,16 kV,18 kV,20 kV。

测试频率标准,测试放电分为两种频率,但放电次数均为10次。一种频率是1秒钟放电1次,连续放电10次,为低频静电放电测试;另一种频率是0.1秒钟放电1次,连续放电10次,为高频静电放电测试。

测试通过标准,硬件无任何损坏,通讯正常,数据无错误,丢失等情况。

测试停止标准,在测试某一项目时,如果硬件发生损坏,通讯异常或其他任何不正常的情况,测试将不向更高标准进行,而只统计当前测试结果。测试转为下一项。为提高测试精度,也可以在测试设备出现异常情况时,先调低静电电压1 kV进行测试,如果测试通过,则调高静电电压0.5 kV进行测试,如果测试不通过,则继续调低静电电压0.5 kV进行测试,依次类推,调节幅度不断减小为0.25 kV,0.125 kV等,直到精度达到要求为止,统计临界静电电压测试结果。

测试顺序标准,测试顺序为先确定电压,再确定频率。电压由低到高,频率由慢到快。即依次为2 kV低频测试,2 kV高频测试,4 kV低频测试,4 kV高频测试,直到20 kV低频测试,20 kV高频测试。在提高精度测试过程中也同样遵循先确定电压,再确定频率这一原则。

静电电压测试仪

测试数据标准,测试某一项目时,在某一电压和频率下,如果连续20次测试通过,即判定在当前状态下,系统工作正常;否则统计连续20次测试过程中出错的次数,计算出错的概率,填入测试数据报表中。

测试方法标准,先将静电枪对准被测试项目(如:机箱,各个接口),移动静电枪至被测试项目的表面,要求静电枪与被测试项目的表面保持垂直且接触,扣动静电枪扳机,待10次放电全部结束后,松开静电枪扳机,将静电枪从被测试项目表面移开,准备下一次测试。

2. 非接触静电测试

测试项目包括设备机箱外壳,电源接口,控制接口,以及通讯接口等。

测试电压标准,测试静电电压从2 kV开始增加,每次增加2 kV,直到20 kV为止,即测试静电电压分别为2 kV,4 kV,6 kV,8 kV,10 kV,12 kV,14 kV,16 kV,18 kV,20 kV。

测试通过标准,硬件无任何损坏,通讯正常,数据无错误,丢失等情况。

测试停止标准,在测试某一项目时,如果硬件发生损坏,通讯异常或其他任何不正常的情况,测试将不向更高标准进行,而只统计当前测试结果。测试转为下一项。为提高测试精度,也可以在测试设备出现异常情况时,先调低静电电压1 kV进行测试,如果测试通过,则调高静电电压0.5 kV进行测试,如果测试不通过,则继续调低静电电压0.5 kV进行测试,依次类推,调节幅度不断减小为0.25 kV,0.125 kV等,直到精度达到要求为止,统计临界静电电压测试结果。

测试顺序标准,测试顺序为电压由低到高。即依次为2 kV测试,4 kV测试,6 kV测试,直到20 kV测试。

测试数据标准,测试某一项目时,在某一电压下,如果连续20次测试通过,即判定再当前状态下,系统工作正常;否则统计连续20次测试过程中出错的次数,计算出错的概率,填入测试数据报表中。

测试方法标准,先将静电枪对准被测试项目(如:机箱,各个接口)且相隔5厘米以上,扣动静电枪扳机,移动静电枪靠近被测试项目的表面,移动过程中要求静电枪与被测试项目的表面保持垂直,待空气放电结束后,将静电枪从被测试项目表面移开,松开静电枪扳机,准备下一次测试。

注意:

测试过程中,某元器件测试结果会因为元器件个体差异而有所不同,如保险,二极管等,这就需要对不同的元器件进行多次测量,求出所有元器件测试结果的平均值作为最终的测试结果。

测试过程中,一般情况下,不能直接对芯片进行静电放电。如有特殊需要,一定要对某芯片进行静电放电测试时,应尽量减小每次静电增加的幅度,这样可以更好的测试出防静电电压真实值的接近值,使测试更加准确。

测试过程中,为保障测试结果的准确性,每次静电放电结束后到下次静电放电开始前的时间间隔不能太小,要留给系统足够的恢复时间,即要留够系统电荷释放的时间,时间间隔一般为10秒钟。待系统电荷充分释放后,才能进行下一次测试。

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